SJ/T 11845.3-2022 基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法第3部分：二极管

标准编号：SJ/T 11845.3-2022

中文名称：基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法第3部分：二极管

英文名称：Reliability evaluation methods for electronic components and devices based on low frequency noise Part 3: Diode

发布日期：2022-10-20

实施日期：2023-01-01

提出单位：工业和信息化部

技术归口：工业和信息化部

批准发布部门：工业和信息化部

起草人

郭美洋、包军林、余永涛、姜亚南、候秀萍、李兆成、孙立军

济南市半导体元件实验所、西安电子科技大学、工业和信息化部电子第五研究所、芜湖赛宝信息产业技术研究院有限公司、深圳市量为科技有限公司

本文件规定了用于稳压二极管（以下简称器件）可靠性评价的低频噪声参数、评价方法及方法应用。

本文件适用于用于稳压二极管（以下简称器件）可靠性评价的低频噪声参数评价方法及方法应用。