GB/T 10785-2025 开顶金属罐及金属盖规格系列
标准编号:GB/T 10785-2025
代替以下标准:GB/T 10785-1989
中文名称:开顶金属罐及金属盖规格系列
英文名称:A series of specification for light gauge metal food containers open-top-can and metal end
发布日期:2025-05-30
实施日期:2026-06-01
提出单位:全国食品工业标准化技术委员会
归口单位:全国食品工业标准化技术委员会
批准发布部门:国家标准委
起草人
陈玉飞、吴刚、陈兆华、沈俊杰、虞建卫、仇凯、邱逊、仇普香、王亚、文慧、吴喆莹、徐尚、王小华、翁伟博、张清、张正长、黎云龙、林书佳、俞欣欣、马俊杰
起草单位
奥瑞金科技股份有限公司、深圳市大满包装有限公司、苏州华源控股股份有限公司、英联金属科技(汕头)有限公司、浙江丰岛食品股份有限公司、上海宝钢包装股份有限公司、浙江东来包装有限公司、义乌市易开盖实业公司、杭州中粮包装有限公司、中国食品发酵工业研究院有限公司
标准范围
本文件规定了开顶式金属罐及易开盖、易撕盖的规格尺寸。
本文件适用于罐头食品工业盛装食品和饮料的开顶式金属罐及其密封用的易开盖、易撕盖。
首页预览图
下载信息
大家都在看
- GB/T 45623-2025 航空活塞式发动机 涡轮增压器转子包容试验方法
- GB/T 35077-2025 机械安全 局部排气通风系统 安全要求
- GB/T 26958.20-2025 产品几何技术规范(GPS) 滤波 第20部分 线性轮廓滤波器 基本概念
- GB/T 35351-2025 增材制造 术语
- GB/T 45723-2025 印制电路板测试方法 温度循环状态下镀覆孔单孔电阻的变化
- GB/T 45725-2025 农作物可见光-短波红外光谱反射率测量
- GB/T 45724-2025 遥感卫星的星地数传链路设计方法
- GB/T 45722-2025 半导体器件 恒流电迁移试验
- GB/T 45721.1-2025 半导体器件 应力迁移试验 第1部分 铜应力迁移试验
- GB/T 45720-2025 半导体器件 栅介质层的时间相关介电击穿(TDDB)试验