SJ/T 10626-1995 键合金丝中微量杂质的ICP发射光谱分析方法

标准编号：SJ/T 10626-1995

中文名称：键合金丝中微量杂质的ICP发射光谱分析方法

发布日期：1995-04-22

实施日期：1995-10-01

技术归口：

批准发布部门：电子工业部

标准范围

本标准适用于键合金丝中银、铜、钙、镁、锰、铁、铋、铅元素的测定。其测定范围：铅、铋为0．0008％～0.0500％，其余为0．0005～0．0500％。

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