SJ/T 11207-1999 钇铁石榴石单晶磁性薄膜磁特性的测量方法

标准编号：SJ/T 11207-1999

中文名称：钇铁石榴石单晶磁性薄膜磁特性的测量方法

发布日期：1999-08-26

实施日期：1999-12-01

技术归口：

批准发布部门：信息产业部

标准范围

本标准规定了频率为10 GHz下的钇铁石榴石(YIG)单晶磁性薄膜材料的铁磁共振线宽△H、立方磁各向异性常数K|(1)、单轴磁各向异性常数K|(u)、旋磁比y和饱和磁化强度M|(2)的测量方法。本标准适用于液相外延生长的具有立方晶体结构的单晶铁氧体薄膜材料的测量。