SJ/T 11820-2022 半导体分立器件直流参数测试设备技术要求和测量方法

标准编号：SJ/T 11820-2022

中文名称：半导体分立器件直流参数测试设备技术要求和测量方法

英文名称：Technology requirements and test methods for discrete semiconductor DC parameters test instruments

发布日期：2022-10-20

实施日期：2023-01-01

提出单位：全国电子测量仪器标准化技术委员会

技术归口：全国电子测量仪器标准化技术委员会

批准发布部门：工业和信息化部

起草人

刘冲、李洁、张珊

起草单位

中国电子技术标准化研究院、深圳市施罗德工业集团有限公司

标准范围

本标准规定了半导体分立器件直流参数测试设备（以下简称“分立器件测试设备”）的术语和定义、技术要求、测量方法。

本标准适用于直流电压输出和直流电压测量范围不超过0.01V~5000V，直流电流输出和直流电流测量范围不超过1nA~10A，脉冲国沉输出和脉沖电流剩量花里不超过10A~1200A的分立器件测试设备。

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