SJ/T 2215-2015 半导体光电耦合器测试方法

标准编号：SJ/T 2215-2015

代替以下标准：SJ/T 2215.1～ 2215.14-1982

中文名称：半导体光电耦合器测试方法

发布日期：2015-04-30

实施日期：2015-10-01

技术归口：工业和信息化部电子工业标准化研究院

批准发布部门：工业和信息化部

起草人

马思华、欧熠、陈春霞 等

起草单位

中电子科技集团公第四十四研究所

标准范围

本标准规定了半导体光电合器（以下简称“器件”）的测试方法。 本标准适用于半导体光电合器。

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