SJ/T 11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法

标准编号：SJ/T 11399-2009

中文名称：半导体发光二极管芯片测试方法

发布日期：2009-11-17

实施日期：2010-01-01

技术归口：中国电子技术标准化研究所

批准发布部门：工业和信息化部

起草人

鲍超、胡爱华

起草单位

中国光学光电子行业协会光电器件分会、厦门华联电子有限公司等

标准范围

主要规定了电学参数、热学参数、色度学参数以及静电放电敏感性测试等主要性能参数的测试方法。

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