电子行业标准(SJ)
汇总SJ电子元器件、数码整机行业标准，更新电子产业技术规范，线上查阅适配电子研发生产质检全流程。
SJ/T 11504-2015 碳化硅单晶抛光片表面质量的测试方法
本标准规定了碳化硅单晶抛光片（以下简称“抛光片”）表面质量的目视检验方法。 本标准适用于单面或者双面抛光的碳化硅单晶抛光片表面质量的检测。
SJ/T 11488-2015 半绝缘砷化镓电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法
本标准规定了半绝缘砷化镓单晶电阻率、霍尔系数和霍尔迁移率的测量方法。 本标准适用于电阻率在10^4Ω·cm～10^9Ω·cm范围内的半绝缘砷化单晶材料电学参数的测量。
SJ/T 11495-2015 硅中间隙氧的转换因子指南
本标准规定了硅中间隙氧的转换因子指南。 标准适用于在室温下测试电阻率大于0.1Ω·cm的n型硅单晶和电阻率大于0.5Ω·cm的p型硅单晶中间氧含量。
SJ/T 11486-2015 小功率LED芯片技术规范
本标准规定了小功率半导体发光二极管芯片(以下简称芯片)的技术要求、检验方法、检验规则和标志、包装、运输和储存。本标准适用于可见光芯片，紫外发射二极管芯片和红外发射二极管芯片可参照执行。
SJ/T 11491-2015 短基线红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量
本标准规定了用短基线红外光谱法测定硅中间隙氧含量。 本标准适用于在室温下用短基线红外吸收法，测量低阻率的n型硅单晶和p型硅单晶中间隙氧含量。测量氧含量的有效范围从1×10∧16at.com3至硅单晶中间隙氧的最大固溶度的测试。
SJ/T 11485-2015 LED型号命名规则
本标准规定了发光二极管器件产品（简称LED器件产品）型号的命名规则。 本标准适用于可见光LED器件产品，其他LED器件产品可参照本标准。
SJ/T 11521.3-2015 数字电视接收设备交互式平台 第3部分：系统测试规范
SJ/T 11521的本部分规定了一个面向三网融合应用，支持多标准兼容、多协议融合和多业务集成的数字电视交互式软件系统架构的测试规范。 本部分适用于数字电视交互式平台产品设计及研发，适用于基于该平台的交互式窗件应用开发。
SJ/T 11493-2015 硅衬底中氮浓度的二次离子质谱测量方法
本标准规定了用二次离子质谱法(SIMS)对硅衬底单晶体材料中氮总浓度的测试方法。 本标准适用于锑、砷、磷的掺杂浓度＜0．2％（1×10∧2at·cm-3）的单晶样品，其中氮的浓度大于等于1 ×10∧14 at·cm-3
SJ/T 11460.6.1-2015 液晶显示用背光组件 第6-1部分: 测试方法 光学与光电参数
本部分规定了液晶显示用背光组件（以下简称背光组件）的光学和光电性能的测试方法。 本部分适用于各类液晶显示用背光组件，包括半导体发光二极管（LED）、冷阴极荧光灯（CCFL）、 电致发光（EL）等背光组件。
SJ/T 11517-2015 电子工业用气体 一氧化碳
本标准规定了一氧化碳的技术要求，试验方法以及包装、标志、贮运及安全。本标准适用于甲酸脱水、甲酸甲酯选择分解、木炭还原二氧化碳、甲醇裂解或使用天然气、轻油、重质液态烃、焦炭、煤等含碳物质为原料经过氧化、蒸汽转化或二氧化碳还原等不同工艺过程获得并经精制得到的一氧化碳产品。它在多晶态钻石膜生产中，为化学气相沉积(CVD)工艺过程提供碳源。 分子式：CO相对分子质量：28．0101（按2007年国际相对原