电子行业标准(SJ)

汇总SJ电子元器件、数码整机行业标准，更新电子产业技术规范，线上查阅适配电子研发生产质检全流程。

本标准规定影院扬声器系统的相关性能的测试方法。

本标准规定了50-141型聚四氟乙烯(PTFE)绝缘半柔同轴通信电缆的产品型号规格、技术要求、试验方法、检验规则、包装、标志、运输和贮存。

本标准规定了等离子显示器前介质、后介质、上障壁、下壁、封接用无铅玻璃粉的技术指标、测试方法、检验规则及标志、包装、运输和贮存。本标准适用于等离子显示器前介质、后介质、上障壁、下障壁、封接用无铅玻璃粉。

SJ/T 11532的本部分规定了用于危险化学品气瓶标识的电子标签(以下简称标签)的性能、封装、固接要求和标签内存储数据的格式等内容。本部分适用于危险化学品气瓶标识用电子标签的设计、封装和应用。

本标准规定了利用X射线衍射定向法测定碳化硅单晶晶向的方法。本标准适用于晶型为6H和4H的碳化硅单晶的晶向测定。

本标准规定了掺铝氧化锌透明导电氧化物玻璃的术语、定义、材料、技术要求、试验方法、检验规则、包装、标志、储存和运输。本标准适用于硅基薄膜太阳能电池用掺铝氧化锌型透明导电氧化物玻璃。其他薄膜太阳能电池技术可参照此标准。

本规范规定了前投影机的功能和性能、测试方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存等。本规范适用于液晶（LCD)、硅基液晶（LCoS)、数字光学处理（DLP）投影方式的前投影机，为产品设计、生产定型、检验的主要依据。其他投影方式、不同场合使用的前投影机可参照使用。

本标准规定了半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法。本标准适用于半绝缘砷化镓、磷化铟、碳化硅等高阻半导体材料电阻率的测量，电阻率的测量范围为10^5 Ω·cm～10^12Ω·cm。

本标准规定了采用光致发光测试系统对表面经过处理的磷镓砷(GaAs1-xPx)晶片组分进行测试的方法。本标准适用于气相外延生长的，光致发光峰（λpl）在640nm～670nm范围内时，对应磷的摩尔分数为36%到42%的n型GaAs1-xPx晶片。

本标准规定了存储卡的基本术语、要求、试验方法、质量评定程序、标志、包装、运输和贮存。本标准适用于存储卡的生产和检验。