SJ/T 2214-2015 半导体光电二极管和光电晶体管测试方法
标准编号:SJ/T 2214-2015
代替以下标准:SJ/T 2214.1~ 2214.10-1982
中文名称:半导体光电二极管和光电晶体管测试方法
发布日期:2015-04-30
实施日期:2015-10-01
技术归口:工业和信息化部电子工业标准化研究院
批准发布部门:工业和信息化部
起草人
郭萍、王波、崔大键
起草单位
中电子科技集团公第四十四研究所
标准范围
本标准规定了半导体光电二极管和光电晶体管(以下简称“器件”)光电参数的测试方法。 本标准适用于半导体光电二极管和光电晶体管光电参数的测试。 本标准不适用PIN、雪崩光电二极管的测试。
首页预览图
下载信息
大家都在看
- SJ/T 10567-2020 电子元器件详细规范 CC2型瓷介固定电容器 评定水平EZ
- SJ/T 11188-2016 广播电视接收机用电子调谐器通用规范
- SJ/T 11442-2012 电子信息行业安全生产标准化评价方法
- SJ/T 11259-2001 制冷机低温泵总规范
- SJ/T 10099-1991 614型100W无方向信标
- SJ/T 10140-1991 超导电子学术语
- SJ/T 10538-1994 冲压生产技术经济指标计算方法
- SJ/T 10023-1991 广播接收机天线用AY10×100中波铁氧体磁芯详细规范 评定水平A
- SJ/T 10535-1994 半导体器件用钨舟
- SJ/T 10468-1993 大型电子系统设备质量工程控制指南