SJ/T 10167-1991 电子设备密封结构试验方法

标准编号：SJ/T 10167-1991

中文名称：电子设备密封结构试验方法

发布日期：1991-04-02

实施日期：1991-07-01

技术归口：

批准发布部门：电子工业部

标准范围

本标准规定了电子设备密封结构壳体的密封试验方法。 本标准适用于密封壳体的水密封、尘密封、气密封试验。

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