SJ/T 2658.8-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第8部分：辐射强度

标准编号：SJ/T 2658.8-2015

代替以下标准：SJ/T 2658.8-1986

中文名称：半导体红外发射二极管测量方法 第8部分：辐射强度

发布日期：2015-10-10

实施日期：2016-04-01

技术归口：工业和信息化部电子工业标准化研究院

批准发布部门：工业和信息化部

起草人

张戈、赵英

起草单位

工业和信息化部电子工业标准化研究院

标准范围

本部分规定了半导体红外发射二极管辐射强度的测量原理图、测量步骤以及规定条件。

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