SJ/T 11766-2020 光电耦合器件低频噪声参数测试方法

标准编号：SJ/T 11766-2020

中文名称：光电耦合器件低频噪声参数测试方法

发布日期：2020-12-09

实施日期：2021-04-01

技术归口：基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组

批准发布部门：工业和信息化部

起草人

余永涛、胡为、张伟 等

起草单位

工业和信息化部电子第五研究所、西安电子科技大学、重庆赛宝工业技术研究院等

标准范围

适用于光电耦合器件1 Hz～300 kHz 频率范围内噪声参数的测试

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