SJ/T 11681-2017 C#语言源代码缺陷控制与测试指南
标准编号:SJ/T 11681-2017
中文名称:C#语言源代码缺陷控制与测试指南
发布日期:2017-04-12
实施日期:2017-07-01
技术归口:全国信息技术标准化技术委员会
批准发布部门:工业和信息化部
起草人
侯建华、倪玉华、黄兆森 等
起草单位
珠海南方软件网络评测中心、中国电子技术标准化研究院、东信和平科技股份有限公司等
标准范围
本标准规定了C#语言程序中典型的行为问题、数据处理、错误处理等类型源代码缺陷(简称“缺陷”)的表象说明、控制活动和测试方法。
本标准适用于C#语言程序设计与测试。
注:本标准所指的缺陷测试主要适用于静态测试。
首页预览图
下载信息
大家都在看
- SJ/T 10022-1991 电子设备用LGB0810型固定电感器详细规范 评定水平E
- SJ/T 2086-2016 聚氯乙烯绝缘安装电线电缆
- SJ/T 10588.24-1994 DB-495型电子玻璃技术数据
- SJ/T 10236-1991 无线电力负荷控制终端装置通用技术条件
- SJ/Z 11357-2006 集成电路IP核软核、硬核的结构、性能和物理建模规范
- SJ/T 11340-2015 前投影机通用规范
- SJ/T 10300-1991 电容测量仪测试方法
- SJ/T 10856-2020 电子元器件详细规范 CA42型固体电解质固定钽电容器 评定水平E
- SJ/T 11660-2016 印制板钻孔用垫板
- SJ/T 10146-1991 焊槽法可焊性测试仪技术条件