SJ/T 11765-2020 晶体管低频噪声参数测试方法

标准编号：SJ/T 11765-2020

中文名称：晶体管低频噪声参数测试方法

发布日期：2020-12-09

实施日期：2021-04-01

技术归口：基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组

批准发布部门：工业和信息化部

起草人

罗宏伟、胡为、王小强 等

起草单位

工业和信息化部电子第五研究所、中国运载火箭技术研究院、西安电子科技大学等

标准范围

适用于双极型晶体管与场效应晶体管，其他晶体管产品可参照执行

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