SJ/T 11699-2018 IP核可测性设计指南

标准编号：SJ/T 11699-2018

中文名称：IP核可测性设计指南

发布日期：2018-02-09

实施日期：2018-04-01

技术归口：全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会

批准发布部门：工业和信息化部

起草人

王永生、肖立伊、付方发 等

起草单位

哈尔滨工业大学、中国电子技术标准化研究院、工业和信息化部软件与集成电路促进中心等

标准范围

本标准规定了IP核的可测试性设计约束和结构，对可测试性结构、测试包封及测试接口进行规定。

本标准适用于对IP核进行可测试性设计、测试集成和IP核测试。

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