SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理
标准编号：SJ/T 10741-2000
代替以下标准：SJ/T 10741-1996
中文名称：半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理
发布日期：2000-12-28
实施日期：2001-03-01
技术归口：
批准发布部门：信息产业部
标准范围
本标准规定了半导体集成电路CMOS电路电特性测试方法的基本原理。 本标准适用于半导体集成电路CMOS电路电特性的测试。
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