SJ/T 11501-2015 碳化硅单晶晶型的测试方法

标准编号：SJ/T 11501-2015

中文名称：碳化硅单晶晶型的测试方法

发布日期：2015-04-30

实施日期：2015-10-01

技术归口：全国半导体设备和材料标准化技术委员会

批准发布部门：工业和信息化部

起草人

丁丽、郝建民、周智慧 等

起草单位

中国电子科技集团公司第四十六研究所、工业和信息化部电子工业标准化研究院

标准范围

本标准规定了利用拉曼光谱定碳化硅单晶结晶类的方法。 本标准适用于碳化硅单晶晶型的测定。

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