SJ/T 11769-2020 电子元器件低频噪声参数测试方法 通用要求
标准编号:SJ/T 11769-2020
中文名称:电子元器件低频噪声参数测试方法 通用要求
发布日期:2020-12-09
实施日期:2021-04-01
技术归口:基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组
批准发布部门:工业和信息化部
起草人
罗宏伟、张伟、胡为 等
起草单位
工业和信息化部电子第五研究所、中国运载火箭技术研究院、西安电子科技大学等
标准范围
适用于电子元器件1 Hz~300 kHz 频率范围内的噪声参数测试
首页预览图
下载信息
大家都在看
- SJ/T 10118-1991 HXP-4键盘技术条件
- SJ/T 10134-1991 空心不锈钢波导
- SJ/T 10519.22-1994 塑料注射模零件 定位圈
- SJ/T 10704-1996 内藏式卫星电视广播接收机基本参数和测量方法
- SJ/T 10466.14-1994 设计质量控制指南
- SJ/T 11311-2005 信息设备资源共享协同服务 第4部分:测试验证规范
- SJ/T 10188-2016 印制板安装用元器件的设计和使用指南
- SJ/T 2938-2015 电视图像信号发生器通用技术要求和测试方法
- SJ/T 10373-1993 电视发射机、差转机可靠性试验方法
- SJ/T 10674-1995 涂料涂 通用技术条件