电子行业标准(SJ)

汇总SJ电子元器件、数码整机行业标准,更新电子产业技术规范,线上查阅适配电子研发生产质检全流程。

SJ/T 11520.8.8-2015 同轴通信电缆 第8-8部分:75-141 型聚四氟乙烯(PTFE)绝缘半柔电缆详细规范

本标准规定了75-141型聚四氟乙烯(PTFE)绝缘半柔同轴通信电缆的产品型号规格、技术要求、试验方法、检验规则、包装、标志、运输和贮存。

SJ/T 11509-2015 液晶显示器用 ITO腐蚀液

本标准规定了液晶显示器用ITO腐蚀液的术语、分类、性状、技术要求、试验方法、检验规则和包装、标志、储存、运输等。 本标准适用于液晶显示器用ITO腐蚀液,以下简称IT0腐蚀液。 本标准不涉及使用安全性问题。本标准的使用人应负责建立适当的安全健康条款及使用范围的限制。

SJ/T 11490-2015 低位错密度砷化镓抛光片蚀坑密度的测量方法

本标准规定了低位错密度砷化镓(GaAs)抛光片腐蚀坑密度(EPD)的测量方法。 本标准适用于直径2英寸和3英寸且EPD小于5000/cm2 的圆形GaAs晶片的EPD的测量。

SJ/T 11530-2015 信息技术 开关型电源适配器通用规范

本标准规定了开关型电源适配器(简称电源适配器)的术语和定义、要求、测验方法、质量评定程序、标志、包装、运输、贮存等。本标准适用于信息技术设备用交流-直流输出的开关型电源适配器,如:计算机及外围设备、电子书、数字照(摄)相机等设备用开关型电源适配器,其他电源适配器也可参照本标准。

SJ/T 2215-2015 半导体光电耦合器测试方法

本标准规定了半导体光电合器(以下简称“器件”)的测试方法。 本标准适用于半导体光电合器。

SJ/T 11501-2015 碳化硅单晶晶型的测试方法

本标准规定了利用拉曼光谱定碳化硅单晶结晶类的方法。 本标准适用于碳化硅单晶晶型的测定。

SJ/T 11378.7-2015 等离子体显示器件 第7部分:数字电视机用等离子体显示器件可靠性试验方法

本标准规定了数字电视机用等离子体显示器件的可靠性试验的试验类型、可靠性预计、预处理、试验设备、试验环境、试验样品、统计试验方案、试验时间、试验应力、试验前的准备、测试信号、检查、失效判据、失效数的计算、失效分析和试验数据处理。

SJ/T 11520.8.2-2015 同轴通信电缆 第8-2部分:50-047型聚四氟乙烯(PTFE)绝缘半柔电缆详细规范

本标准规定了50-047型聚四氟乙烯(PTFE)绝缘半柔同轴通信电缆的产品规格、技术要求、试验方法、检验规则、包装、标志、运输和贮存。

SJ/T 11520.8.9-2015 同轴通信电缆 第8-9部分:75-250 型聚四氟乙烯(PTFE)绝缘半柔电缆详细规范

本标准规定了75-250型聚四氟乙烯(PTFE)绝缘半柔同轴通信电缆的产品型号规格、技术要求、试验方法、检验规则、包装、标志、运输和贮存。

SJ/T 11507-2015 集成电路用 氧化层缓冲腐蚀液

本标准规定了集成电路用氧化层缓冲腐蚀液的术语、性状、技术要求、试验方法、检验规则和包装、标志、储存、运输等。 本标准适用于集成电路用氧化层缓冲腐蚀液。 本标准不涉及使用安全性问题。本标准的使用人应负责建立适当的安全健康条款及使用范围的限制。