有色金属行业标准(YS)

汇总YS有色矿产冶炼、金属加工行业标准，更新冶金产业新规，在线检索阅览适配有色行业生产质检工作。

本标准规定了烧结钨板坯产品的要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存及质量证明书和合同（或订货单）。本标准适用于通过粉末冶金方法生产的轧制用钨板坯产品。

本部分规定了用能量色散X射线荧光光谱仪测定红土镍矿中铝、铬、铁、镁、锰、镍和硅含量的方法。本部分适用于红土镍矿中铝、铬、铁、镁、锰、镍和硅含量的测定。

本部分规定了铜阳极泥中锑含量的测定方法。本部分适用于铜阳极泥中锑含量的测定。测定范围：0.50%～10.00%。

本部分规定了红土镍矿中镁量的测定方法。本部分适用于红土镍矿中镁量的测定。测定范围：2.00%～20.00%。

本标准规定了高纯铟的要求、试验方法、检验规则和标志、包装、运输、贮存、质量证明书和合同（或订货单）内容等。本标准适用于以工业粗铟为原料，经原料处理及电解精炼等工艺制得的高纯铟。产品供制作化合物半导体、高纯合金、高级轴承及半导体材料的掺杂剂等。

本部分规定了红土镍矿中铅量的测定方法。本部分适用于红土镍矿中铅量的测定。测定范围：0.010%～0.50%。

本部分规定了红土镍矿中汞量的测定方法。本部分适用于红土镍矿中汞量的测定。测定范围：0.00005%～0.010%。

本部分规定了红土镍矿中钴、铁、镍、磷、氧化铝、氧化钙、氧化铬、氧化镁、氧化锰、二氧化硅和二氧化钛量的波长色散X射线荧光光谱测定方法。本部分适用于红土镍矿中钴、铁、镍、磷、氧化铝、氧化钙、氧化铬、氧化镁、氧化锰、二氧化硅和二氧化钛量的测定。

本方法规定了用椭圆偏振测试方法测量生长或沉积在硅衬底上的绝缘体薄膜厚度及折射率的方法。本方法适用于薄膜对测试波长没有吸收和衬底对测试波长处不透光、且已知测试波长处衬底折射率和消光系数的绝缘体薄膜厚度及折射率的测量。对于非绝缘体薄膜，满足一定条件时,方可采用本方法。

本部分规定了红土镍矿中碳和硫量的测定方法。本部分适用于红土镍矿中碳和硫量的测定。测定范围：碳0.0060 %～0.40%，硫0.0020%～0.20 %。