YD/T 3037.2-2023 通用集成电路卡（UICC）与终端间大容量存储接口特性测试方法 第2部分：UICC

标准编号：YD/T 3037.2-2023

代替以下标准：YD/T 3037.2-2016

中文名称：通用集成电路卡（UICC）与终端间大容量存储接口特性测试方法 第2部分：UICC

英文名称：Test methods for mass storage characteristic between UICC and terminal interface — — Part 2: UICC

发布日期：2023-12-20

实施日期：2024-04-01

提出单位： 中国通信标准化协会

技术归口：中国通信标准化协会

批准发布部门：工业和信息化部

起草人

郑海霞、张苒、马凡、朱岩、邓建国、刘煜、乐祖辉、陈国华、王诗俊、刘斌、彭程、杨剑、赵敬超、何明、霍航宇、李建龙、王余、张炳楠、裴佳裕

起草单位

中国信息通信研究院、博鼎实华（北京）技术有限公司、中国移动通信集团有限公司、中国联合网络通信集团有限公司、中国电信集团有限公司、紫光国芯微电子股份有限公司、北京中电华大电子设计有限责任公司

标准范围

本文件规定了UICC-终端间大容最存储接口特性的UICC部分测试方法，主要包括：物理特性、电气特性、初始通信协议的建立、功能测试和性能测试。

本文件适用于支持大容量存储接口的UICC卡的研发和生产。

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