在查网,资料下载平台
首页
使用微信扫一扫登录

YS/T 83-1994 光谱分析用钯基体

有色金属行业标准(YS)

标准编号:YS/T 83-1994

代替以下标准:YB 1707-1978

中文名称:光谱分析用钯基体

发布日期:1994-05-11

实施日期:1995-05-01

技术归口:

批准发布部门:中国有色金属工业总公司

首页预览图

下载信息


立即下载

大家都在看

  • YS/T 744-2010 电池级无水氯化锂
  • YS/T 746.16-2010 无铅锡基焊料化学分析方法 第16部分:稀土含量的测定 偶氮胂Ⅲ分光光度法
  • YS/T 807.12-2012 铝中间合金化学分析方法 第12部分:铜含量的测定 硫代硫酸钠滴定法
  • YS/T 13-1991 高纯四氯化锗
  • YS/T 746.13-2010 无铅锡基焊料化学分析方法 第13部分:镍含量的测定 火焰原子吸收光谱法
  • YS/T 539.4-2009 镍基合金粉化学分析方法 第4部分:铬量的测定 过硫酸铵氧化滴定法
  • YS/T 244.1-2008 高纯铝化学分析方法 第1部分:邻二氮杂菲-硫氰酸盐光度法测定铁含量
  • YS/T 360.1-2011 钛铁矿精矿化学分析方法 第1部分:二氧化钛量的测定 硫酸铁铵滴定法
  • YS/T 1258-2018 有色金属材料 熔融和结晶温度试验 热分析方法
  • YS/T 898-2013 高纯钽化学分析方法 痕量杂质元素的测定 电感耦合等离子体质谱法
  • 在查网
  • 收藏本站
  • 最新更新
  • 返回首页

©2025 在查网 https://www.zaicha.com

下载的资料仅可用于个人学习、交流使用,未经许可不得用于商业盈利用途!

皖ICP备2025091657号