YS/T 1344.3-2020 掺锡氧化铟粉化学分析方法 第3部分：物相分析 X射线衍射分析法
标准编号：YS/T 1344.3-2020
中文名称：掺锡氧化铟粉化学分析方法 第3部分：物相分析 X射线衍射分析法
发布日期：2020-04-16
实施日期：2020-10-01
技术归口：
批准发布部门：工业和信息化部
标准范围
本部分适用于掺锡氧化铟粉中物相的测定。
首页预览图
立即下载大家都在看
- YS/T 34.3-1992 高纯砷化学分析方法 极谱法测定硒量
- YS/T 820.26-2012 红土镍矿化学分析方法 第26部分：灼烧减量的测定 重量法
- YS/T 121.9-1992 有色金属加工企业真空电弧炉热平衡测试与计算方法
- YS/T 62.3-2005 铝用炭素材料取样方法 第3部分：预焙阳极
- YS/T 63.1-2006 铝用碳素材料检测方法 第1部分：阴极糊试样焙烧方法、焙烧失重的测定及生坯试样表观密度的测定
- YS/T 229.2-2013 高纯铅化学分析方法 第2部分：砷量的测定 原子荧光光谱法
- YS/T 426.4-2000 锑铍芯块化学分析方法 原子吸收光谱法测定铅、铁、锰、镁量
- YS/T 454-2003 铝及铝合金导体
- YS/T 820.6-2012 红土镍矿化学分析方法 第6部分：铜量的测定 火焰原子吸收光谱法
- YS/T 63.12-2006 铝用碳素材料检测方法 第12部分：预焙阳极CO2反应性的测定 质量损失法