YS/T 1160-2016 工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法
标准编号：YS/T 1160-2016
中文名称：工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法
发布日期：2016-07-11
实施日期：2017-01-01
技术归口：
批准发布部门：工业和信息化部
标准范围
本标准规定了工业硅粉中二氧化硅含量的测定方法。
本标准适用于工业硅粉中二氧化硅含量的测定，测定范围为≥1%。
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