DB61/T 1448-2021 大功率半导体分立器件间歇寿命试验规程

标准编号：DB61/T 1448-2021

中文名称：大功率半导体分立器件间歇寿命试验规程

英文名称：Intermittent operation life Test specification for high-power discrete semiconductor devices

发布日期：2021-03-22

实施日期：2021-04-22

提出单位：西安卫光科技有限公司

归口单位：由陕西省工业和信息化厅

批准发布部门：陕西省市场监督管理局

起草人

王嘉蓉、安海华、薛红兵、赵辉

西安卫光科技有限公司、中电科西安导航技术有限公司、西安西岳电子技术有限公司

本文件规定了大功率半导体分立器件（以下简称器件）间歇寿命试验的术语和定义、试验系统、试验程序、失效判据及试验报告的要求。

本文件适用于大功率双极型晶体管、场效应晶体管、绝缘栅场效应晶体管、二极管等半导体分立器件的间歇寿命试验。